TE测试卡就是常见的4G测试卡，分FDD-LTE测试卡和TDD-LTE测试卡，因为配合CMW500综测仪较为常见，也叫CMW500白卡。骏诺达采用优质的芯片，镀金层加厚，使得更加耐磨实用，拔插次数更高。配套优质的系统，使得兼容性更强。
应用领域：通信、科研、电力、汽车等应用领域内的微波射频元器件。
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LTE-USIM CARD测试卡 手机测试卡 通过仪器测试
LTE测试卡在进入4G移动通信时代诞生，LTE是英文Long Term Evolution的缩写。LTE也被通俗的称为3.9G，具有100Mbps的数据能力，被视作从3G向4G演进的主流技术。
LTE的研究，包含了一些普遍认为很重要的部分，如等待时间的减少、更高的用户数据速率、系统容量和覆盖的改善以及运营成本的降低。
3GPP长期演进(LTE)项目是近两年来3GPP启动的新技术研发项目，这种以OFDM/FDMA为核心的技术可以被看作“准4G”技术。
手机测试卡主要分有3G网络和非3G网络，现在我国3G网络主要有WCDMA网络，EVDO网络和TD-SCDMA网络，相对也产生了WCDMA手机测试卡，EVDO测试卡，TD-SCDMA测试卡，非3G测试卡有GSM手机测试卡,CDMA手机测试卡。
LTE测试白卡分FDD-LTE白卡和TDD-LTE白卡两种，主要适用于不同的运营商网络，为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡，它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进，还添加了多功能网络的测试，满足了一卡多机的测试，减少了频繁换卡的烦恼，从而提高了生产效率。可以配合综测仪进行，类似耦合测试、天线测试、功率测试等功能性测试
主要配合综合测试仪：罗德和施瓦茨CMU500测试仪
我们同时为了满足不同客户的需求，提供了标准卡，中卡（Micro SIM规格，适合于note、苹果4、苹果4s），小卡（Nano-SIM规格，苹果6、苹果6s规格卡片）
