回收KEITHLEY4200A参数分析仪

  • 发布时间:2025-04-28 00:00:00,加入时间:2018年03月21日(距今2636天)
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梦想是注定孤独的旅行,路上少不了质疑和嘲笑,但那又怎样,哪怕遍体鳞伤,也要活得漂亮。

生活就是这样,越是惧怕什么,越会发生什么。

你以为的天长地久,转眼就是曾经拥有。你向往的平平淡淡,总会遭遇措手不及。

东莞市诺展电子仪器有限公司

是一家提供电子测量仪器销售,租赁,维修,回收的专业性公司。

半导体可靠性

在执行复杂的可靠性测试时,4200A-SCS 可以帮您处理复杂的编码工作。 内含热载波注入劣化 (HCI) 等项目,使您能够快速开始设备分析。

特点

只需一组测试,即可满足您的直流 I-V、C-V 和脉冲测量需求

支持多种探头站和外部仪器

循环系统易于使用,允许在无需编码的情况下重复测试

提供适合高阻抗应用的 C-V 测量功能

采用 Keithley 的自定义极低频 C-V 技术分析高电阻样本的电容。 该技术可通过仅使用源测量单元 (SMU) 仪器实现应用,同时可与 4210-CVU 结合使用,执行更高频率测量。

4200A-SCS 参数分析仪可在高阻抗设备上执行极低频电容-电压测量

简化 MOSFET/MOSCAP 设备检定的提示和技术

特点

.01 ~ 10 Hz 频率范围,1 pF ~ 10 nF 灵敏度

3½ 位典型分辨率,典型值 10 fF

非易失内存

通过全面脉冲 I-V 检定在测试中利用新技术。 4200A-SCS 为新 NVRAM 技术提供支持和即用型测试,从浮动门电路闪存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 电流和电压双源和测量功能同时支持瞬态和 I-V 域检定。

VCSEL 测试

4200A-SCS 中的多个并行源测量单元 (SMU) 仪器可简化激光二极管测试。 仅使用一台机器连接即可生成 LIV(光强-电流-电压)曲线。 

高级探头站和开关支持使您能够使用相同的仪器对单个二极管或整个阵列进行晶圆生产测试。 SMU 可配置为高达 21 W 容量,适用于多种连续波 (CW) VCSEL 应用。

纳米级设备检定

4200A-SCS 的集成仪器功能可简化碳纳米管等纳米级电子器件开发方面的测量要求。 从预配置测试项目开始着手,逐步扩大您的研究工作范围。 SMU 的脉冲源模式可帮助缓解过热问题,数秒内即可完成与低电压 C-V 和超快速脉冲直流测量的组合。

材料电阻率

使用集成了 SMU 的 4200A-SCS,可通过四点同轴探头或范德堡法轻松测量电阻率。内含测试可自动重复执行范德堡计算,节省您宝贵的研究时间。10aA 的大电流分辨率和大于欧姆的输入阻抗可提供更准确和精准的结果。

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