X射线镀层测厚仪iEDX-150T性价比超高的

  • 发布时间:2019-08-07 10:11:04,加入时间:2019年06月03日(距今2257天)
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产品优势及特征

(一)产品优势

1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。

2. 仪器尺寸mm,样品移动距离mm。

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件终身免费升级。

10. 无损检测,一次性购买标样可永久使用。

11. 使用安心无忧,服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。

12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

13. 可进行RoHS检测(选配功能),应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

(二)产品特征

1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

3. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析,可以增加RoHS检测功能。

4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DINSO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如:Cu/ABS等]

双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

7. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。zuida测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

产品配置及技术指标说明

测量原理:能量色散X射线分析

样品类型:固体/粉末

X射线光管:50KV,1mA

过滤器:5过滤器自动转换

检测系统:SDD探测器(或Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

准直器孔径mm(可选)

应用程序语言:韩英中

分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

仪器尺寸mm

样品移动距离mm

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo (钼) 靶

2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

3. 滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

mm )

4. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。

5. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 照明方法:上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 计算机、打印机(赠送)

1) 含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

2) 含Win 7/Win 10系统。

3) Multi-Ray镀层分析软件

注:设备需要配备稳压器,需另计

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