测光阵列控制器45MLA-CTRL-ALG

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测光阵列控制器45MLA-CTRL-ALG      武汉金凯哲机电信息技术有限公司  唐工  公司成立:2010年(长期有效!) 腾讯1966年00月28日8时4分

离散光阵列光电传感器

公告45DLA离散光阵列光电传感器检测二维区域的任何地方的目标-即使零件形状、尺寸或位置不规则。这些具有成本效益的传感器将多个发射器或接收器元件组合到一个外壳中,以创建一个感应场,该感应场可以在更宽的区域检测目标,并提供一个简单的离散(开/关)输出。

45DLA-1LEB1T-F4 45DLA1LEB1TF4

45DLA-1LEB2E-F4 45DLA1LEB2EF4

45DLA-1LEB2T-F4 45DLA1LEB2TF4

45DLA-1LEB4T-F4 45DLA1LEB4TF4

45DLA-1LEB6T-F4 45DLA1LEB6TF4

45DLA-1LEB8T-F4 45DLA1LEB8TF4

45FPL-2LHE-A2 45FPL2LHEA2

45FPL-2LHE-Y3 45FPL2LHEY3

45FVL-2LGE-A2 45FVL2LGEA2

45FVL-2LHE-A2 45FVL2LHEA2

45LMS-BKT1 45LMSBKT1

45LMS-BKT2 45LMSBKT2

45LMS-BKT3 45LMSBKT3

45LMS-D8LGC1-D4 45LMSD8LGC1D4

45LMS-D8LGC2-D4 45LMSD8LGC2D4

45LMS-U8LGC3-D4 45LMSU8LGC3D4

45LSP-2LPA1-P3 45LSP2LPA1P3

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45LSP-2LPA2-P4 45LSP2LPA2P4

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45LST-1LEA3-P4 45LST1LEA3P4

45LST-1LEA5-P4 45LST1LEA5P4

45LST-1LEA6-P4 45LST1LEA6P4

45LUM-D7JPT1-D5 45LUMD7JPT1D5

测量光阵列光电传感器

公告45MLA测量光阵列光电传感器检测或测量二维区域内的目标,即使零件形状、尺寸或位置不规则。这些传感器可以检测和通信单个光束状态,以测量和确定物体的位置。发射器和接收器阵列连接到单独的控制器。所有I/O、通信和电源连接都连接到外部控制器。我们提供具有各种功能和/或通信接口的控制器:I/O、CAN、RS485、二进制和模拟。

45MLA-AT0150P10 45MLAAT0150P10

45MLA-AT0300P10 45MLAAT0300P10

45MLA-AT0300P25 45MLAAT0300P25

45MLA-AT0750P10 45MLAAT0750P10

45MLA-AT0750P25 45MLAAT0750P25

45MLA-AT0900P10 45MLAAT0900P10

45MLA-AT0900P25 45MLAAT0900P25

45MLA-AT1000P10 45MLAAT1000P10

45MLA-AT1200P10 45MLAAT1200P10

45MLA-CTRL-100F 45MLACTRL100F

45MLA-CTRL-485 45MLACTRL485

45MLA-CTRL-ALG 45MLACTRLALG

45MLA-DT0300P10 45MLADT0300P10

45MLD-8LEA1-P4 45MLD8LEA1P4

测光阵列控制器45MLA-CTRL-ALG

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