韩国ISP-x射线镀层测厚仪iEDX-150T

产品概述

产品类型：能量色散X荧光光谱分析设备

产品名称：镀层厚度测试仪

型号：iEDX-150T

生产商：韩国ISP公司

亚太地区战略合作伙伴：广州鸿熙电子科技有限公司

镀层厚度测试仪 iEDX-150T

产品优势及特征

（一）产品优势

1. 镀层检测，最多镀层检测可达5层，精度及稳定性可控制在+--5%内。

2. 仪器尺寸mm，样品移动距离mm。

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件终身免费升级。

10. 无损检测，一次性购买标样可永久使用。

11. 使用安心无忧，服务响应时间24H以内，提供全方位保姆式服务。

12. 可以远程操作，解决客户使用中的后顾之忧。

13. 可进行RoHS检测（选配功能），应对新版中华人民共和国RoHS检测要求，欧盟及北美RoHS检测等要求标准，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

（二）产品特征

1. 高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）

2. 计算机 - MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）。

3. Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行精确的镀层厚度分析，可以增加RoHS检测功能。

4. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 DIN - ISO 3497-A1

吸收模式DIN - ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对（比）模式无焦点测量 DINSO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如：Cu-ABS等]

双镀层应用 [如：Ag-Pd-Zn, Au-Ni-Cu等]

三镀层应用 [如：Au-Ni-P-Cu-Brass等]

四镀层应用 [如：Cr-Ni-Cu-Zn-SnPb等]

合金镀层应 [如：Sn-Ni-ABS Pd-Ni-Cu-ABS等]

1. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

2. 完整的统计函数均值、标准差、低-高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等

自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

产品配置及技术指标说明