AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AEC-Q200认证测试方法主要如下：
加速环境应力测试
偏高湿度、温度循环、功率温度循环、高温储存、盐雾测试、湿度抵抗、机械冲击、变频振动、恒加速应力、盖板扭力测试、芯片切断、跌落测试
加速寿命模拟测试
高温工作寿命、早期失效率、热冲击、旋转寿命、寿命终止模拟验证
封装组合整装测试
邦线切应力/拉力、锡球切应力、可焊性、引线完整性、剪切强度、断裂强度、抗焊接热、端子强度
芯片晶圆可靠度测试
电迁移、介质击穿、热载流子注入、负偏压温度不稳定性、应力迁移
电气特性确认测试
人体模式/机器模式静电放电、ESD、带电器件模式静电放电、闩锁效应、电分配、故障分级、电热效应引起的栅漏、电磁兼容、短路特性描述、软错误率、瞬时电传导、短路失效电流持久性
瑕疵筛选监控测试
部件平均测试、统计良率分析
封装凹陷整合测试
粗/细漏检、内部水汽含量
AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AEC-Q200认证标准主要如下：
AEC-Q001 零件平均测试指导原则
AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则
AEC-Q003 芯片产品的电性表现特性化的指导原则
JEDEC JESD-22 封装器件可靠性测试方法
MIL-STD-883 微电子测试方式和程序
AEC 是"Automotive Electronics Council:汽车电子协会"的简称.
克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC),是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体,AEC建立了质量控制的标准.[AEC-Q100]是针对于集成电路应力测试认证的失效机理,针对于分立器件的标准为 [AEC-Q101],针对于LED的标准为 [AEC-Q102],针对于被动元件设计为[AEC-Q200]
