车用多芯片模块AECQ104可靠性测试 介绍：
AEC-Q104上，为了依据MCM在汽车上实际使用环境，为复合式的环境，因此增加顺序试验，验证通过的难度变高。例如，必须先执行完High Temp Operating Life(HTOL)，才能做Thermal Shock(TS)，颠倒过来就不行。AEC-Q104中针对MCM，增加H系列的测项；此外，针对零件本身的可靠性测试(Component Level Reliability)，也增加了Thermal Shock(TS)及外观检视离子迁移(VISM)。
AEC-Q104认证主要针对车用多芯片模块可靠性测试，是AEC-Q系列家族成员中较新的汽车电子规范。
AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。
AECQ测试标准
AEC-Q100 芯片应力测试（Stress Test）的认证规范
AEC-Q100-001 邦线切应力测试
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试
AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试
AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级
AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009 电分配的评估
AEC-Q100-010 锡球剪切测试
AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC-Q101 离散组件应力测试（Stress Test）的认证规范
AEC-Q101-001 人体模式静电放电测试
AEC-Q101-003 邦线切应力测试
AEC-Q101-004 同步性测试方法
AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试
AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
AEC-Q102 车用分立光电半导体元器件可靠性验证测试
AEC-Q103 汽车传感器应力测试的认证规范
AEC-Q103-002 微机电系统压力传感器器件应力测试
AEC-Q103-003 MEMS麦克风器件应力测试
