光电鼠标行走寿命试验机HK-SB-XZ
设备用途:
光电鼠标行走寿命试验机可模拟光电鼠标在一定荷重下行走之状况，通过计算监测，了解鼠标行走轨迹及寿命。
设备特点:
光电鼠标行走寿命试验机采用调速电机驱动、手动升降上盘，专用夹具设计，让你的工作跟简捷方便；
本试验机可同时测试3个鼠标，并备有三组导向孔，满足不同测试要求
设备技术参数:
|
型号 |
HK-8536 |
|
产品名称 |
光电鼠标行走寿命试验机 |
|
同时测试试样 |
3pcs |
|
试验荷重 |
100g±5g |
|
测试速度 |
89～392mm/sec(可调) |
|
测试行程 |
0～300KM（可设置） |
|
体积 |
W600×D600×H550mm |
|
重量 |
45kg |
|
电源 |
AC220V,50Hz 5A 或指定 |
