XTOM——三维光学面扫描系统
XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用国际进的外差式多频相移三维光学测量技术，测量精度、测量速度等性能都达到国际进水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高，抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。
应用范围
· 逆向设计：快速获取零部件的表面点云数据，建立三维数模，从而达到产品快速设计的目的。
· 产品检测：生产线产品质量控制和形位尺寸检测，特别适合复杂曲面的检测，可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
· 其他应用：文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。
功能特色
· 扫描预览，实时跟踪标志点
· 针对不同幅面的标定板，灵活的相机标定
· 扫描结果三维显示，灵活的三维显示控制
· 坐标转换功能
· 具备光学探针功能
· 321坐标转换功能
· 具备点距测量功能
· 具备多种后处理功能，包括点云精确匹配、重叠面自动融合等
· 具备多种元素拟合功能：点、线、面、球、圆柱、圆锥等
· 具备多种偏差分析功能：点偏差、距离偏差、角度偏差等
产品型号
TOPSCAN-TC
单目型
TOPSCAN-MIC
教育型
TOPSCAN-EDU
教育四目
TOPSCAN-ET
工业型
