19孔低对比度测试模体
产品编号:SY01429
19孔低对比度测试模体
产品名称:低对比度测试卡
用途:X射线放射质量控制 低对比度检测 质量控制,QC低对比度测试卡
低对比度测试卡按照国家标准 YY/T 加工制作而成。
19孔低对比度测试模体,符合YY/T 。用于检测X射线机等设备的低对比度
该模体由纯铝组成,模体厚度为20mm;
铝板上均布孔径1cm的孔,共计19组;
孔深从0.07mm到3.2mm.
19孔低对比度测试模体
产品编号:SY01429
19孔低对比度测试模体
产品名称:低对比度测试卡
用途:X射线放射质量控制 低对比度检测 质量控制,QC低对比度测试卡
低对比度测试卡按照国家标准 YY/T 加工制作而成。
19孔低对比度测试模体,符合YY/T 。用于检测X射线机等设备的低对比度
该模体由纯铝组成,模体厚度为20mm;
铝板上均布孔径1cm的孔,共计19组;
孔深从0.07mm到3.2mm.
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