XT-50冲击试样缺口投影仪

  • 发布时间:2025-06-25 10:14:35,加入时间:2025年06月09日(距今16天)
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随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格,所以在整个试验过程中,试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格,那么其试验结果是不可信的,特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格,其质量检验是一个重要的控制手段,目前,用光学投影放大检验是唯一切实可行的方法。

XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2020《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。

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